Hyppää sisältöön
    • Suomeksi
    • På svenska
    • In English
  • Suomeksi
  • In English
  • Kirjaudu
Näytä aineisto 
  •   Etusivu
  • LUTPub
  • Diplomityöt ja Pro gradu -tutkielmat
  • Näytä aineisto
  •   Etusivu
  • LUTPub
  • Diplomityöt ja Pro gradu -tutkielmat
  • Näytä aineisto
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Automatic detection and segmentation of offset lithography defects using full reference image comparison

Madhawa, Dedigama (2017)

Katso/Avaa
mastersthesis_madhawa_dedigama.pdf (1.539Mb)
Lataukset: 


Diplomityö

Madhawa, Dedigama
2017

Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi-fe2017122856125

Tiivistelmä

Offset printing has become the modern standard in high-volume industrial printing of magazines
and newspapers. Therefore, the continuous improvement of the printing quality through the
detection and removal of printing defects is an indispensable necessity. A vision-based inspection
method that compares an inspected image to a reference image is proposed to detect and segment
printing defects. The structural similarity image metric is used together with a Bayesian Classifier
to detect defective regions in the inspected image. The methods are evaluated using a dataset of
artificially simulated images based on defects samples from the printing facility. Results show that
the proposed methods can detect 93% of the simulated defects.
Kokoelmat
  • Diplomityöt ja Pro gradu -tutkielmat [13843]
LUT-yliopisto
PL 20
53851 Lappeenranta
Ota yhteyttä | Tietosuoja | Saavutettavuusseloste
 

 

Tämä kokoelma

JulkaisuajatTekijätNimekkeetKoulutusohjelmaAvainsanatSyöttöajatYhteisöt ja kokoelmat

Omat tiedot

Kirjaudu sisäänRekisteröidy
LUT-yliopisto
PL 20
53851 Lappeenranta
Ota yhteyttä | Tietosuoja | Saavutettavuusseloste